Indhold fra dagen

Se: www.teknologisk.dk/metrologidagen-2024/metrologidagen-2024/46068 

Program

10:00 Velkomst
(Divisionsdirektør Juan Farré Teknologisk Institut)

10:10 Introduktion til Metrologidagen
(David Balslev-Harder, DFM - Formand for DANIAmet)

10:25 Metrologi i dansk industri, hvorfor og hvordan?
(John Domino, Kamstrup A/S og Mikkel Bollesen, Teknologisk Institut)

11:00 Fremtidens automatisering med digitale kalibreringscertifikater
(Tove Søgaard, Dandiag A/S, David Balslev-Harder, DFM, og Jonas Vind, Teknologisk Institut)

12:00 Frokost, netværk og posters

12:45 Laboratoriebesøg, demonstration af kalibrering, fra DCR til DCC

13:30 Automatiseret emneopmåling
(Jari Ojala, Teknologisk Institut)

14:00 Måling af mikroflow og test af medikoudstyr
(Henrik Kjeldsen, Teknologisk Institut)

14:20 Kaffe, netværk og posters

14:40 Udvikling af biosensor til klinisk brug
(Thomas Emil Andersen, Associate Professor, Department of Clinical Research, OUH og Mikael Lassen, DFM)

15:20 Kort opsamling og afslutning